EVOLUTE™ 光學絕對式光學尺系列
EVOLUTE 光學絕對式光學尺是一款高速的高解析度位置量測系統，具備充裕的安裝公差和強化的抗汙能力。一啟動立即確定位置，無需任何運動，進而提供平順的速度控制及可靠的位置穩定性。
輕鬆量測絕對位置
EVOLUTE 系統採用 RESOLUTE™ 光學尺系列的業界領先技術，為 50 µm 光學尺週期的真正絕對式光學尺，具有充裕的安裝公差、強化的抗汙能力和多功能量測效能。
由於採用創新的影像處理演算法和針對抗污染性進行最佳化的光學鏡組，可維持優異的操作完整性。
EVOLUTE 光學尺以達 50 nm 的解析度及高達 100 m/s 的速度來測量絕對位置。本系列產品提供線性光學尺與各種序列介面：
- BiSS® C（單向）搭配相容控制器
- FANUC（α 及 αi）
- Mitsubishi（J4 和 J5 系列伺服驅動器，以及適用於工具機應用的 MDS-D2/DH2/DM2/DJ 驅動器）
- Panasonic（A5 及 A6 系列驅動器）
- Siemens DRIVE-CLiQ®
- Yaskawa（Sigma-5 及 Sigma-7 SERVOPACK）
所有版本（以 ADT 標誌標記）皆與選配的進階診斷工具 ADTa-100 及 ADT View 軟體相容，可取得全面即時編碼器資料以進行最佳化與現場偵錯。
規格資料表和技術文件
如需規格資料表及安裝指南等進一步資訊以瞭解 EVOLUTE 光學尺系列的技術規格，請前往技術下載部分。
線性運動形式
光學尺類型 | 光學尺名稱 | 精度 | 柵距 | 熱膨脹係數（20 °C 時） | 供應長度 |
不鏽鋼捲尺
| RTLA50 | ±10 μm/m | 50 μm | 10.1 ±0.2 μm/m/°C | 高達 10,020 mm |
不鏽鋼光學尺搭配選購的軌道
| RTLA50 與選購的 FASTRACK™ | ±10 μm/m | 50 μm | 10.1 ±0.2 μm/m/°C | 高達 10,020 mm |
主要優點
多功能量測
細分誤差 (SDE) ±150 nm 及低於 10 nm RMS 的超低雜訊（抖動）。
安裝簡便
使用 50 µm 週期的單軌光學尺，可提供充裕的 500 μm 安裝公差（安裝高度）。
選配的進階診斷工具 ADTa-100
EVOLUTE 光學尺讀頭相容於進階診斷工具 ADTa-100 和 ADT View 軟體。它們可提供全面的即時光學尺資料回饋，以協助完成要求更加嚴苛的安裝和診斷操作。直觀的軟體介面具有以下功能：
- 遠程校正
- 在整個軸上達到訊號優化
- 顯示讀頭相對於光學尺位置的數位讀數
- 匯出和保存資料
- 設定為零
歡迎探索我們的開放式光學尺系列，滿足您的工業自動化需求。